掃描電鏡（SEM），全稱(chēng)掃描電子顯微鏡，是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的電子顯微鏡。它能產(chǎn)生樣品表面的高分辨率圖像，且圖像呈三維，掃描電子顯微鏡能被用來(lái)鑒定樣品的表面結構，廣泛地應用于化學(xué)、材料、冶金、醫學(xué)、生物、半導體制造檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門(mén)。